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NIST溯源計量法測，苯乙烯-對苯二烯共聚物DVB尺度標準微粒，用于激光散射儀器的驗證。尺度均勻的苯乙烯-對苯二烯共聚物微粒，模擬真實環(huán)境中顆粒物的分布狀況
更新日期：2017-09-24
型號：2000
瀏覽量：2008
杜克標準粒子 熱電粒子 熱電標準粒子 thermo粒子 thermo標準粒子 賽默粒子 賽默標準粒子飛世爾粒子 飛世爾標準粒子 fisher粒子
更新日期：2016-08-14型號：Duke 2006A 2000系列瀏覽量：2796
杜克標準粒子 熱電粒子 熱電標準粒子 thermo粒子 thermo標準粒子 賽默粒子 賽默標準粒子飛世爾粒子 飛世爾標準粒子 fisher粒子
更新日期：2016-08-14型號：Duke 2005A 2000系列瀏覽量：3057
NIST溯源尺度標準，用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chǎn)品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規(guī)格。SURF-CAL系列產(chǎn)品完符合SEMI行業(yè)協(xié)會的建立的SSIS標指導準則， 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍， 覆蓋了半導體技術藍圖（ITRS）所義的關鍵質控點
更新日期：2017-06-23型號：SURF-CAL尺度標準微粒瀏覽量：2082
NIST溯源尺度標準，用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chǎn)品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規(guī)格。SURF-CAL系列產(chǎn)品完符合SEMI行業(yè)協(xié)會的建立的SSIS標指導準則， 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍， 覆蓋了半導體技術藍圖（ITRS）所義的關鍵質控點
更新日期：2017-06-12型號：SURF-CAL尺度標準微粒瀏覽量：2140
NIST溯源尺度標準，用于需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chǎn)品的粒徑復合儀器廠家所需的各種規(guī)格。SURF-CAL系列產(chǎn)品完符合SEMI行業(yè)協(xié)會的建立的SSIS標指導準則， 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的范圍， 覆蓋了半導體技術藍圖（ITRS）所義的關鍵質控點
更新日期：2017-06-14型號：SURF-CAL尺度標準微粒瀏覽量：2363
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